• Équipements propres à l’unité

RMN

• Spectromètre solide Bruker AV 300 : guillaume.laurent[at]sorbonne-universite.fr, 
  • Sonde statique 5mm (¹H ou X)
  • Sondes CP-MAS
    • 7mm ¹H-X,
    • 4mm ¹H-X, 4mm ¹H-X (MQ), 4mm ¹H-X (HR-MAS), 4mm ¹H-X-Y
    • 2.5mm (¹H / ¹⁹F)-X
• Spectromètre solide/liquide Bruker AV 300 : andrei.nossov[at]sorbonne-universite.fr
  • Sonde statique
    • HP 10mm ¹²⁹Xe
    • CP ¹H-X
  • Sondes CP-MAS
    • 7mm ¹H-X
    • 4mm ¹H-X
  • Sonde liquide BBO 5mm ¹H-X-²H
• Spectromètre liquide Bruker AV^III 300 : francois.ribot[at]upmc.fr,
  
  • Sonde BBFO 5mm X-¹H avec gradient z (50G/cm)
  • Sondes 5mm « fort gradient » (1200 G/cm)
    • Diff30L (¹³C-¹H-²H)
    • Diff30 avec les inserts X/²H (X = ⁷Li, ¹⁹F, ³¹P, ²³Na, ¹³³Cs) ou ¹¹⁹Sn/¹H

Microscopies

• Microscope électronique en transmission Tecnai spirit G2 : patrick.le_griel[at]sorbonne-universite.fr et gervaise.mosser[at]sorbonne-univesite.fr,
  
  • Caméra Gatan Orius,
  • EDX
  • Module Low-dose
  • Module de tomographie
  • Module complet de cryo-microscopie
  • Porte-objets : simple tilt, double tilt, trois positions, cryo
• Microscopie électronique à balayage Hitachi S-3400N : isabelle.genois[at]sorbonne-univesite.fr,
  
  • Vide partiel possible
  • Détecteurs d’électrons secondaires (SE) et rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire et détecteur d’électrons secondaires en vide partiel (ESED)
  • Détecteur de rayons X
  • Analyse EDX (Oxford Instruments – X-max)
• Microscopie à force atomique : marco.faustini[at]sorbonne-universite.fr)

Techniques de diffusion

• Diffusion Dynamique de la lumière (DLS), Potentiel ZETA (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
  
• Diffusion des rayons X

Analyses thermiques

• DSC (-150°C/500°C) TA DSC 2010,
  • Système de refroidissement LNCA
  • Module d’analyse thermique simultanée ATG/DSC (1500°C) TA SDT 2960 ATG/ATD (1500°C) Netzsch STA 409
• DSC modulée TA Q20 (de -180°C à 725°C)  nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr

Adsorption-désorption d’azote (B.E.T)

• ASAP 2010 (cecile.roux[at]upmc.fr, andrei.nossov[at]upmc.fr)
• Belsorp max

Conductivité électrique, mesures électrochimiques

Spectroscopies

• Spectromètre infra-rouge (FT-IR) (nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr)
• Spectromètre UV-Visible UVIKON SECOMAM (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
• Spectromètre UV-Visible-nIR CARY 5000 – Agilent Technologies (olivier.durupthy[at]upmc.fr)
• Spectropolarimètre CD-UV (carole.aime[at]upmc.fr)
• Fluorimètre HORIBA Jobin-Yvon (lionel.nicole[at]upmc.fr)

Ellipsométrie (cedric.boissiere[at]upmc.fr)

 

Procédés de mise en forme

• Dip coater
• Spin coater
• Aérosol (cedric.boissiere[at]upmc.fr)
• Electro-spinneur
• Séchage hyper-critique : BAL-TEC 030 Critical Point Dryer
• Lyophilisateur (sylvie.masse[at]upmc.fr)
• Extrudeuse / Mélangeur

Fours

• Fours micro-onde  olivier.durupthy[at]upmc.fr
  
  • Anton Paar Multiwave 3000 avec Rotor XF100 Tmax 250, Pmax 60 bar
  • Milestone MicroSYNTH
• Fours pyrolyse (corinne.chaneac[at]upmc.fr)

Boites à gants (MBrawn) (laurence.rozes[at]upmc.fr, francois.ribot[at]upmc.fr)

• Sèche (H₂O < 0,5 ppm)
• Inerte (H₂O < 0,5 ppm et O₂ < 0,5 ppm)

Analyses Mécaniques

• Machine d’essais en traction Instron
  • 2 cellules de force
  • Enceinte climatique
• Rhéomètre avec module DMA (Analyse mécanique dynamique) Anton Paar

Plateformes mutualisées de l’IMPC (FR 2482)
page des plateformes du site de l’IMPC

 

Diffraction et diffusion des Rayons X (mohamed.selmane[at]upmc.fr)

• Diffractomètres sur poudre en réflexion
  • Tube CuKα (1.54 Å)
• Appareil de SAXS

RMN

• Spectromètre RMN solide 700 SB (US++) BRUKER Avance III
  • Sondes:Trigamma3.2mmLowgamma;MAS:1H-X-Y;X=23Na-29Si,Y=15N-43Ca;Tri gamma 3.2 mm High gamma ; MAS : 1H-X-Y ; X = 31P-13C, Y = 23Na-15N ; Ultrafast MAS 1.3 mm ; MAS : 1H-X ; 31P-77Se Statique – Trigamma ; ; Ultrafast MAS 1.3 mm ; MAS : 67 kHz; 1H-X
  • Accessoires : BCUX extrême
• Spectromètre RMN solide 500 WB (US) BRUKER Avance III
  • Amplificateurs : H1000, X1000, X500
  • Accessoire : BCU-extrême
  • Sondes:7mm;MAS:1H-X;X=15N31PDVT;4mm;MAS:1H-X;X=15N31P;DVT;4mm triple ; MAS 1H-X-Y ; X 31P ; Y 29Si 65Cu ; DVT2.5 mm ; MAS : 1H-X ; X = 13C 31P DVT
• Spectromètre RMN liquide 500 SB BRUKER AVIII
  • Sondes : BBI (1H-X) 5mm avec gradient z (50G/cm) ; BBO (X-1H) 10mm avec gradient z (30G/cm)

Microscopies électroniques

• MET JEOL 2100 PLUS
  • Tension d’accélération : 200 KV – Résolution : 1.9 Angstrom
  • Analyseur EDS (SDD 80 mm2-Oxford, logiciel AZtec)
  • Spectromètre de perte d’énergie (GIF) pour l’imagerie filtrée (EFTEM)
  • Spectromètre (EELS)
  • Système de balayage du faisceau (STEM)
  • Détecteur à fort angle pour le champ sombre annulaire (HAADF)
  • Caméra CCD Gatan (Orius) – Logiciel Gatan
• MET JEM 2011 UHR/EDX
  • Tension d’accélération : 200 KV Résolution : 1.9 angstrom
  • Analyseur EDS (PGT)
  • Système de balayage du faisceau (STEM)
  • Caméra CCD Gatan (Orius) – Logiciel Gatan (Digital micrograph)
• MET JEM 1011
  • Tension d’accélération : 100 kV – Résolution : 3 angstrom
  • Caméra Gatan (Orius) – Logiciel DigitalMicrograph
• SEM-FEG HITACHI SU-70
  • Détecteurs d’électrons secondaires (SE) (résolution 1 nm à 15 kV ; 2,5 nm à 1kV) et rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire
  • Détecteur en sélection de rayons X (EDX) : Oxford X-Max 50 mm2, logiciel INCA

Spectroscopie de Photoélectrons X

• Spectromètre Omicron Nanotechnology
  • Analyseur hémisphérique
  • Détection à 128 microcanaux
  • Source de RX alfa (1486.6 eV) monochromatée

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